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美国吉时利keithley纳米科学研究实验

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浏览:次 2017-05-31 20:07:55

美国吉时利keithley纳米科学研究实验 美国吉时利keithley纳米科学研究实验 美国吉时利keithley纳米科学研究实验•概述•丈量范例•测试方案•带给纳米科学研究人员的主要好处•纳米同盟合作火伴资源•经常使用产品•相干资料•其它利用领域美国吉时利keithley纳米科学研究实验概述正如数字革命和现代生物学,纳米技术日趋成为科学技术向前发展趋势的主导技术。纳米级科学和工程将引领基础研究和教育的进步,电子和光电器件的进步和半导体制造、生物技术、替换能源和工业制造的显著变化。3 端纳米线晶体管(图片由美国德州大学达拉斯分校提供)美国吉时利 keithley6430 型亚 fA 程控源表® Measures currents with 400aA (400X10⑴8A) Sensitivity纳米级材料和器 美国吉时利keithley纳米科学研究实验•概述•丈量范例•测试方案•带给纳米科学研究人员的主要好处•纳米同盟合作铜制品拉力实验机火伴资源•经常使用产品•相干资料•其它利用领域美国吉时利keithley纳米科学研究实验概述正如数字革命和现代生物学,纳米技术日趋成为科学技术向前发展趋势的主导技术。纳米级科学和工程将引领基础研究和教育的进步,电子和光电器件的进步和半导体制造、生物技术、替换能源和工业制造的显著驱动轴周期循环实验机变化。3 端纳米线晶体管(图片由美国德州大学达拉斯分校提供)美国吉时利 keithley6430 型亚 fA 程控源表® Measures currents with 400aA (400X10⑴8A) Sensitivity纳米级材料和器件的制造通常始于化学、生物学或半导体器件 / 微电籽实验室。纳米级材料和器件的电气丈量不但揭露了电特性,还揭露了纳米微粒的状态密度等1般特性。这些基本特性可用于预测和控制物理特性,例如抗拉强度、色彩和电导性和导热性。但是,进行成心义的丈量需要高灵敏度的仪器和复杂的探头技术。专用于纳米技术研究的仪器不断增加,但是用户必须了解所需的丈量类型,和哪一种测试系统特点将增加速度和准确度。对实验室中研究的许多纳米级材料和器件,最多见的电气特性分析方法是电流与电压 (I-V) 测试。电流-电压特性是显示电子器件上的直流电流与其两真个直流电压之间关系的1幅图。电气工程师使用这些图肯定器件的基本参数并对电子电路的行动建模。通常,工程师将特性分析图称为 I-V曲线,从而指用于电流和电压的标准符号。典型的碳纳米管MOSFET 的漏电压与漏电流 I-V 曲线看起来像左侧的曲线。美国吉时利keithley纳米科学研究排水管环刚度实验机实验丈量范例新材料研究4 线连接至碳纳米管(图片重新制作以示对 Zyvex 企业的敬重)在器件开发进程中,类似纳米线、碳纳米管和纳米晶体的结构常常表现出与众不同的特点。分析这些特点而不破坏唯一无2的结构需要能对源进行严格控制的系统,以避免器件自发热。吉时利丈量仪器将这类严格控制与超快丈量速度和灵敏度结合在灵活、模块化的结构中从而很容易适应不断变化的测试要求。丈量这些材料的1种最经常使用的丈量技bally皮革动态防水实验机术是使用 4 线或 “Kelvin” 丈量。采取 Kelv盐水实验机in 丈量技术时,需要第2组探头用于感测。由于这些探头中的电流可疏忽不计,所以只用丈量 DUT 两真个压降,以下图所示。因此,电阻丈量或 I-V 曲线产生就更准确了。美国吉时利keithley4200-SCS 型半导体特性分析系统中的吉时利交互式测试环境 (KITE) 允许任何纳米科学领域的研究人员培养轻松、快捷地6轴按键寿命实验机配置丈量测试的能力。KITE 是1款用于纳米材料和器件和半导体器件特性分析的利用程序。拉链综合强力实验机测试中的源和丈量功能由源丈量单元(输出并丈量直流电压和电流的电子仪器) 提供。测试能力的扩大可以通过各种外部组13度车轮冲击实验机件的支撑实现。这是碳纳米管 I-V 测试的设置范例和单壁碳纳米管的 I-V 微机控制板材拉力实验机扫描结果:这幅图说明了采取吉时利 4ic卡曲折实验机200-SCS 和 KITE 取得的碳纳米管 I-V 曲线(感谢 Zyvex 企业)实验器件的开发由1系列金纳米粒子构成的器件。照片由芝加哥大学的 K. E包装加持力实验机lteto 和 X.M. Lin 提供。在器件开发进程中,类似纳米线、碳纳米管和纳米晶体的结构常常表现出与众不同的特点。分析这些特点而不破坏唯一无2的结构需要能对源进行严格控制的系统,以避免器件自发热。吉时利丈量仪器将这类严格控制与超快丈量速度和灵敏度结合在灵活、模块化的结构中从而很容易适应不断变化的测试要求。低电平脉冲丈量触及输出电流脉冲并丈量所产生的电压。由于美国吉时利 keithley6221 / 2812A 的组适用于解决在低信号电平、低电平噪声条件下的脉冲特性分析问题。但是,6221 / 2182A 组纸板剥离强度实验机合与以往所有的测试配置在1些重要方面不相同。1个区分是所有脉冲丈量都是差分 (或相对) 丈量。这意味着会给丈量信号增加误差 (例如偏移、漂移、噪声和热电的 EMF) 的背景电压被消除。由于热电压和仪表偏移产生的直流偏移会给丈量的电压带来严重误差。使用 delta 模式丈量技术消除偏移。进行相对丈量消除偏移误差。丈量的拉力实验机耐黄变实验机 delta 电压对电流脉冲产生正确的电压响应。两点 delta 模式丈量的操作是输出电流脉冲并且在每次脉冲之前和脉冲期间各进行1次丈量。得到这两次丈量的差高低温万能实验机值就消除任何恒定的热电偏移,保存了真实的电压值。但是,两点丈量法不能消除刚性实验机柔性实验机随时间漂移的热电偏移。使用 delta 方法中的第3个丈量点就可以消除漂移的偏移量。1种可选的第3个丈量点能帮助消除移动的偏移量。第3个丈量点是可选的,但是其实不可取。例如,取决于器件的定时特性,如果输出的电流脉冲对器件有长时间效应,那末由于 DUT 脉冲带来的热量,用于取消移动偏移的第3丈量点可能包括误差,因此弊大于利。美国吉时利keithley纳米科学研究实验测试方案吉时利丈量仪器在纳米技术研究和开发环境中的利用不断扩大。这里示出的利用仅是吉时利丈量仪器和系统合适的纳米技术测试和丈量任务节选。如果您的测试需要输出或丈量低电平信号,那末吉时利丈量仪器能帮助您更准确、更经济有效地履行这些操作。4200-SCS 半导体特性分析系统特点:符合 IEEE P1650⑵005 标准;易于使用,基于 Windows 操作;完全、集成方案;无以伦比的灵活性和适应性。吉时利最初开发 4200-SCS 是用于半导体工业,但是纳米技术研究人员很快就发现 4200-SCS 对纳米级材料和器件的开发和研究非常有效。今天,4200-SCS 强大的特性分析系统是用于全球纳米技术研究和教育实验室的行业标准工具,其利用领域从材料研究和纳米结构开发到纳米电子器件的I-V特性分析。4200-SCS 系统深受欢迎的部份缘由是吉时利不断致力于增强其硬件和App性能以满足新兴测试需求。吉时利不断致力于提高 4200-SCS 的性能确保不断为您提供经济有效的系统升级途径到最新的丈量性能。带给纳米科学研究人员的主要好处1.精密、有掌控地分析纳米材料和实验器件的能力;2.直流、脉冲、射频测试:扩大您的能力,拓展发现的空气弹簧疲劳实验机潜力;3.可配置、可扩缩、可升级:现在能工作,以后能成长;4.脉冲测试最小化焦耳热效应;5.4200-SCS 符合并且支撑世界第1项用于碳纳米管的电丈量标准 —— IEEE P1650⑵005 标准:“丈量碳纳米管电气特性的 IEEE 标准测试方法”。6.吉时利高速和简洁的测试方案能让生物学家、化学家、物理学家或其他研究人员简便地进行复杂丈量。7.吉时利产品被您的同行在久负盛名的水泥胶砂电动抗折实验机纳米科学研究期刊中广泛使用和援用,例如:- 《纳米快报》(Nano Letters)- 《纳米技术》(Nanotechnology)- 《IEEE 纳米技术汇刊》(IEEE Transactions on Nanotechnology)- 《先进材料》(Advanced Materials)- 《自然》(Nature)- 《利用物理快报》(Applied Physics Letters)纳米同盟合作火伴资源纳米工程功能材料研究中心 (FENA)西部纳米电子研究所 (WIN)加州纳米系统研究院 (合作火伴)小册子探索应对未来纳米特性分析挑战的方案4200-SCS 半导体特性分析系统最新 4200-CVU 集成 C-V 选件用于 4200-SCS美国吉时利keithley2600 系列数字源表多通道 IV 测试仪器 – 用于快速研发和功能测试的可扩缩方案美国吉时利keithley2400 系列数字源表系列 探可程式盐雾实验机索应对未来纳米特性分析挑战的方案吉时利脉冲方案精密、低电流源用于器件测试和分析高准确度皮安表适于低电流 / 高阻利用高准确度静电计适于低电流 / 高阻利用用最新、最早进的无线测试创新测试您的信号半导体特性分析系统 – 产品阅读4200-SCS 半导体特性分析系统4200-CVU 集成 C-V 选件用于 4200-SCS4200- PIV-A 脉冲 C-V 包用于 4200-SCS 半导体特性分析系统数字源表 – 产品阅读SourceMeter® 仪器 (电流源 / 电压源和丈量产品)2400 型数字源表2601 型和 2602 型 SourceMeter® 仪器2611 型和 261 2型 SourceMeter® 仪器 (200V)2635 型和 2636 型 SourceMeter® 仪器 (低电流)脉冲 / 码型动磁式万能材料实验机产生3400 系列脉冲 / 码型产生器电流源 / 纳伏表美国吉时利keithley6220 / 6221 和 keithley2182A 精密电流源和纳伏表静电计 / 皮安表低电流高电阻产品美国吉时利keithley白皮书纳米科技测试的最新挑战提高纳米电子和份子电子器件的低电流丈量在低功率和低压利用中实现准确、可靠的电阻丈量纳米级器件和材净水器水锤实验机料的电气丈量提高超高电阻和电阻率丈量的可重复性1种微分电导的改进丈量方法纳米技术准确电气丈量的技术纳米级材手动拉力实验机料的电气丈量下降外部误差源影响的仪器技术迎接 65nm 节点的丈量挑战用于丈量半导体材料的高电阻率和霍尔电压的丈量仪器和技术电子计数导线拉断力实验机:如何用微微微安量程丈量电流低压丈量技术基于吉时利 4200-SCS 的局域网实验室用于微电子工程教育纳米技术在半导体行业中的作用为大学生制造实验室设计特性分析系统用 6 线欧姆丈量技术实现更高准确度的电阻丈量新型仪器能稳住锁定状态利用笔记4200-SCS#2239 用 4200 进行栅极电介质电容 - 电压特性分析#2240 评估氧化层的可靠性#2241 用低噪声 4200-SCS 进行超低电流丈量#2475 用 4200-SCS 实现 4 探针电阻率和霍尔电压丈量#2481 利用 4200-SCS 和 Zyvex S100 纳米控制器实现纳米线和纳米管的 I-V 丈量#2851 用 4200-SCS 半导体特性分析系统金属材料万能实验机和 3400 系列脉冲 / 码型产生器进行电荷泵丈量#2876 使用 4200低温冷弯实验机-SCS 半导体特性分析系统对太阳能 / 光伏电池进行 I-V 和 C-V 丈量基于 4200-SCS 半导体特性分析系统的 MOS 电容 C-V 特性分析面向 CMOS 晶体管的 4波纹管材环刚度实验机200 脉冲 IV 丈量数字源表#804 用 2400 系列数字源表进行 IDDQ 测试和待电机流测试#1953 使用 2420 丈量光伏电池的 I-V 特性#2217 多台数字源表的触发器同步#2218 高亮度、可见光 LED 的生产测试#2402 OLED 显示器的直流生产测试#2616 将 2400 系列数字源表的 SCPI 利用转换为 2600 系列源表的脚本利用#2647 用 2600 系列数字源表进行 IDDQ抗拉抗压实验机 测试和待电机流测试#2814 在运行中第 5 次丈量用于偏置温度不稳定特性分析使用两台 2400 型数字源表输出 2A 电流技术笔记:数字源表的缓冲器和如何用这两个缓冲器获得多达 5000 点数据我能否用 2400 或其它非脉冲模式源表产生电流 (或电压) 脉冲?排除 SCPI 常见毛病使用电动印字耐磨实验机吉时利数字源表和 LabTracer App的器件特性分析技术脉冲产生器#2851 用 4200-SCS 半导体特性分析系统和 34holink精密高温实验机00 系列脉冲 / 码型产生器进行电荷泵丈量电流源 / 纳伏表#1132 理解低压丈量技术#2611 基于 6221 / 2182A 组合的低电平脉冲电气特性分析#2615 使用4点共线探针和 6221 电流源肯定电阻率和电导率类型静电计 / 皮安表#312 高阻丈量#314 体电阻率和表面电阻率#1671 低电流丈量#2464 用 6517A 对惰性气体或高度真空中的小晶体进行高电阻丈量#2615 使用4点共线探针和 62服装拉力实验机21 电流源肯定电阻率和电导率类型其它利用领域半导体器件实验室电路 / 基础电籽实验室 美国吉时利keithley纳米科学研究实验
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